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        X射線熒光光譜儀的原理和分析步驟

        發布時間:2022-05-26      點擊次數:735
        X射線是一種波長較短的電磁輻射,通常是指能量范圍在0.1~100 keV的光子。X射線與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X熒光(二次X射線),探測器對X熒光進行檢測。
         
        XRF利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子,使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同,分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。
         
        X射線熒光光譜儀工作原理:
         
        用X射線照射試樣時,試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強度,以進行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長,同時又有一定能量,因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型和能量色散型。
         
        X射線熒光光譜儀分析的一般步驟是: 
         
        1.選擇分析方法; 
        2.樣品制備; 
        3.儀器參數選擇與校準曲線的制作; 
        4.試樣分析。
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