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        蔡司掃描電子顯微鏡樣品有什么要求

        發布時間:2022-06-24      點擊次數:123
          蔡司掃描電子顯微鏡簡稱掃描電鏡,已成為功能強、用途廣的材料表征工具,已廣泛應用于材料,冶金,礦物,生物學等領域。
         
          在SEM中,電子束以柵網模式掃描樣品。首先,電子槍在鏡筒頂部生成電子。當電子的熱能超過了源材料的功函數時,就會被釋放出來,然后它們加速向帶有正電荷的陽極高速移動。整個電子鏡筒必須處于真空狀態。
         
          蔡司掃描電子顯微鏡是運用材料表面微區的特征(如形貌、原子序數、化學成分或者晶體結構等)的差異,在電子束作用下通過試樣不同區域產生不同的亮度差異,從而獲得具有一定襯度的圖像。成像信號是二次電子、背散射電子或者吸收電子,此中二次電子是主要的成像信號。高能電子束轟擊樣品表面,激發出樣品表面的各種物理信號,再利用不同的信號探測器接受物理信號轉換成圖像信息。
         
          蔡司掃描電子顯微鏡除了可以測試二次電子圖像之外,還可以測試背散射電子、透射電子、特征x射線以及陰極發光等信號圖像。它的成像原理和二次電子像一樣。在進行掃描電子顯微鏡觀察之前,要對樣品作相應的處理。
         
          蔡司掃描電子顯微鏡對樣品的要求:
         
          首先第一點,不會被電子束分解;
         
          其次第二點,在電子束掃描下熱穩定性要好;
         
          第三點,可以提供導電還有導熱通道;
         
          第四點,大小和厚度要適合使用于樣品臺的安裝;
         
          第五點,觀察面應該清潔并且無污染物;
         
          第六點,進行微區成分分析的表面應該平整;
         
          最后第七點,磁性試樣要預先去磁,是為了避免觀察的時候電子束受到磁場的影響。
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