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        • 日本Otsuka顯微分光膜厚儀
          日本Otsuka顯微分光膜厚儀

          日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率(多層膜厚度,光學常數) 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(紫外至近紅外) 區域傳感器的安全機制 易于分析向導,初學者也能夠進行光學常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義

          更新時間:2022-03-20型號:OPTM SERIES訪問量:132
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        • 日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
          日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES

          日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率(多層膜厚度,光學常數) 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(紫外至近紅外) 區域傳感器的安全機制 易于分析向導,初學者也能夠進行光學常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義

          更新時間:2022-03-19型號:訪問量:71
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